Hardwareluxx > Статьи > Железо > Накопители > Тест и обзор: Samsung SSD 840 EVO на 120, 250 и 500 Гбайт

Тест и обзор: Samsung SSD 840 EVO на 120, 250 и 500 Гбайт

PDFПечатьE-mail
Опубликовано:
Михаил Обер

Страница 6: Samsung SSD 840 EVO | Тесты: Iometer

Iometer можно назвать универсальным тестом, который оценивает чистую производительность накопителя практически во всех мыслимых сценариях доступа. Последняя версия теста также получила возможность выбирать, какие данные использовать. В частности, интересны опции "Repeating bytes/повторяющиеся байты" и "Full random/полностью случайные". Первая опция всегда использует одни и те же повторяющиеся данные, поэтому контроллер может существенно сжимать данные. Сжатие данных выполняют далеко не все контроллеры, однако у некоторых контроллеров (того же SandForce) реализована "прозрачная" система сжатия, которая, в зависимости от используемых данных, позволяет увеличивать пропускную способность. Вторая опция создает буфер данных в 16 Мбайт с высокой энтропией, и сжатие таких данных очень сильно затруднено (если вообще возможно). Все это позволяет выполнять на контроллере со встроенной системой сжатия два тестовых прогона, один из которых оперирует полностью случайными данными ("Full random"). Прогоном по умолчанию является режим с повторяющимися байтами ("Repeating bytes"), что соответствует инструкциям производителя.

Для настольных систем характерна минимальная очередь запросов (глубина очередь команд, QD). Иногда она может ненамного повышаться, но всё равно остаётся в пределах однозначных значений. Тесты с глубиной очереди QD 32 позволяют SSD раскрыть свой потенциал в полной мере. Подобная глубина очереди команд возможна и в обычных ситуациях, но только в многопользовательском или серверном окружении.

Тест 4K задействует 8 млн. логических секторов по 512 байт; тест последовательного чтения/записи задействует почти полную ёмкость накопителя.

 iometer 4k read

Тест блоков 4K, чтение, глубина очереди QD=1

 iometer 4k write

Тест блоков 4K, запись, глубина очереди QD=1

 iometer 4k read 3

Тест блоков 4K, чтение, глубина очереди QD=3

 iometer 4k write 3

Тест блоков 4K, запись, глубина очереди QD=3

 iometer 4k read 32

Тест блоков 4K, чтение, глубина очереди QD=32

 iometer 4k write 32

Тест блоков 4K, запись, глубина очереди QD=32

 iometer seq read

Тест последовательного чтения, глубина очереди QD=1

 iometer seq write

Тест последовательной записи, глубина очереди QD=1

Из-за длительного времени проведения теста Iometer в нем записывается большое количество данных, кэш TurboWrite заполняется полностью, что приводит к существенно меньшей производительности записи. В частности это заметно на 120-Гбайт модели.